測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:06-07 2023 來自:祥宇精密
在CNC加工中,尺寸、形狀和位置等參數(shù)的精度對于零件的質(zhì)量很重要。而要保證零件符合設(shè)計要求,需要實時檢測和調(diào)整這些參數(shù)的值,測量儀器設(shè)備也成為了CNC加工過程中不可或缺的工具之一。提高加工精度,從而保證產(chǎn)品質(zhì)量。測長儀如何實現(xiàn)在CNC加工中的實時檢測和調(diào)整呢?
一、測長儀的原理
測長儀是一種利用光學(xué)干涉測量原理來獲取長度的設(shè)備。它由激光器、分束器、反射鏡等組成。當激光經(jīng)過分束器后,被分成兩束光線。其中一束光線直接照射到被測物體上,另一束光線則反射后再照射到被測物體上。兩束光線在被測物體上形成干涉條紋,根據(jù)干涉條紋的數(shù)量就可以計算出被測物體的長度。
二、測長儀在CNC加工中的應(yīng)用
在CNC加工中,測長儀可以用于實時檢測工件的尺寸是否符合要求,并且可以自動調(diào)整機床的位置和速度,以避免誤差積累。測長儀可以測量工件的長度、寬度、高度、平面度、直線度和圓度等參數(shù)。當測量結(jié)果與設(shè)定值不一致時,測長儀會自動調(diào)整機床的位置和速度,以達到精確加工的目的。測長儀可以分為接觸式和非接觸式兩種。接觸式測長儀需要接觸被測物體,因此適用于測量尺寸較大的工件;而非接觸式測長儀則無需接觸被測物體,適用于測量尺寸較小或表面易受損的工件。
三、實現(xiàn)方法
實現(xiàn)測長儀在CNC加工中的實時檢測和調(diào)整,需要進行以下步驟:
1.選擇合適的測長儀:根據(jù)加工對象的尺寸和精度要求,選擇適合的測長儀。
2.與CNC系統(tǒng)連接:將測長儀與CNC系統(tǒng)連接,以實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和控制。
3.設(shè)置測量參數(shù):根據(jù)加工對象的尺寸和形狀,設(shè)置相關(guān)的測量參數(shù)。
4.編寫程序:根據(jù)測量結(jié)果和設(shè)定值的比較,編寫程序自動調(diào)整機床的位置和速度。
實現(xiàn)以上步驟后,測長儀就可以實現(xiàn)在CNC加工中的實時檢測和調(diào)整了。
參考文獻:
1. H. Wang, et al., "Real-time measurement and control of workpiece position based on linear grating," Proc. SPIE 8321, Seventh International Symposium on Precision Engineering Measurements and Instrumentation, 83210Z (November 15, 2011); doi:10.1117/12.903979.
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3. A. K. Gupta and V. K. Jain, "Optimizing the use of a coordinate measuring machine in manufacturing," International Journal of Production Research, Vol. 38, No. 4, pp. 869-888, 2000.
400-801-9255