品檢二次元儀器怎么用

        品檢二次元測(cè)量?jī)x有兩種測(cè)量方法，一種是切線(xiàn)法，一種是采點(diǎn)計(jì)算法。

        切線(xiàn)法是指人工旋轉(zhuǎn)屏幕上或者鏡頭內(nèi)刻線(xiàn)，分別對(duì)準(zhǔn)工件兩條邊線(xiàn)，通過(guò)編碼器或者圓光柵計(jì)數(shù)來(lái)測(cè)量角度的方法。切線(xiàn)法操作方便簡(jiǎn)單，但是測(cè)量精讀低，適合快速批量檢測(cè)，如果被測(cè)件角度精讀要求較高。采點(diǎn)計(jì)算法所有的幾何元素都是有點(diǎn)組成的，包括基本元素直線(xiàn)，曲線(xiàn)和圓弧。二維平面角度由基本幾何元素兩條直線(xiàn)組成，直線(xiàn)由無(wú)數(shù)的點(diǎn)組成。所以角度測(cè)量準(zhǔn)確與否，采點(diǎn)是最關(guān)鍵的。

        二次元影像儀本身的硬件CCD以及光柵尺，通過(guò)USB及RS232數(shù)據(jù)線(xiàn)傳輸?shù)诫娔X的數(shù)據(jù)采集卡中，將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，之后由影像測(cè)量?jī)x軟件在電腦顯示器上成像，由操作員用鼠標(biāo)在電腦上進(jìn)行快速的測(cè)量。如果電腦配置附合要求，測(cè)量軟件絕對(duì)不會(huì)產(chǎn)生圖像滯后現(xiàn)象。根據(jù)測(cè)量工件大小的不同，也可以選擇不同行程的工作臺(tái)面。光源亮度可以在各種光線(xiàn)條件下選擇最合適的光源亮度。光源類(lèi)型(分為底光和表面光)可根據(jù)測(cè)量工件來(lái)進(jìn)行調(diào)節(jié)控制以達(dá)到最好的效果。