一、設(shè)備原理

影像測量儀是一種基于數(shù)字圖像處理技術(shù)的測量設(shè)備，通過高精度光學(xué)鏡頭和CCD攝像機(jī)捕捉被測物體的圖像，然后利用數(shù)字圖像處理技術(shù)對(duì)圖像進(jìn)行分析，從而獲得被測物體的幾何尺寸、形狀和位置等信息。

三坐標(biāo)測量儀，又稱三次元測量儀，是一種基于空間坐標(biāo)系的測量設(shè)備。它通過測頭系統(tǒng)與被測物體表面接觸，獲取被測點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，然后通過計(jì)算處理獲得被測物體的尺寸、形狀和位置等信息。

二、應(yīng)用領(lǐng)域

影像測量儀主要應(yīng)用于二維平面尺寸的測量，適用于機(jī)械、電子、光電、航空、航天等領(lǐng)域的產(chǎn)品設(shè)計(jì)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)管理等方面。例如，印刷電路板、集成電路芯片、液晶面板、機(jī)械零件等的尺寸測量和輪廓檢測。

三坐標(biāo)測量儀則主要應(yīng)用于三維空間尺寸的測量，適用于汽車、模具、家電、航空航天等領(lǐng)域的產(chǎn)品設(shè)計(jì)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)管理等方面。例如，發(fā)動(dòng)機(jī)缸體、變速器殼體、汽車內(nèi)外飾件、模具型腔、飛機(jī)結(jié)構(gòu)件等的尺寸測量和形狀檢測。

三、測量方法

影像測量儀采用非接觸式測量方法，通過圖像分析技術(shù)識(shí)別被測物體的特征點(diǎn)，然后計(jì)算這些特征點(diǎn)之間的距離、角度等幾何關(guān)系。這種方法對(duì)被測物體無損傷，但受到圖像質(zhì)量和特征點(diǎn)識(shí)別算法的限制，可能存在一定的測量誤差。

三坐標(biāo)測量儀采用接觸式測量方法，通過測頭系統(tǒng)與被測物體表面接觸，獲取被測點(diǎn)的坐標(biāo)值。這種方法可以獲得較高的測量精度，但對(duì)被測物體可能存在一定的損傷，且測頭系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和制造難度較大，設(shè)備成本較高。

四、精度和速度

影像測量儀的測量精度受到鏡頭放大倍率、CCD像素、測量軟件算法等多種因素的影響，一般可達(dá)到微米級(jí)別。測量速度較快，適合批量測量和在線檢測。

三坐標(biāo)測量儀的測量精度受到測頭系統(tǒng)、導(dǎo)軌系統(tǒng)、控制系統(tǒng)等多種因素的影響，一般可達(dá)到微米甚至納米級(jí)別。測量速度相對(duì)較慢，適合對(duì)精度要求較高的測量任務(wù)。